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C測試儀3504-50能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷，對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能。

C測試儀 3504-40封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等， 能根據(jù)C和D（損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷。

LCR測試儀 3511-50精巧，5ms快速測量LCR，高速測量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz）， 高精度： ± 0.08%， 內置比較器。

LCR測試儀IM35361mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進行低阻測量，可內部發(fā)生DC偏壓測量，從研發(fā)到供應線活躍在各種領域中。

LCR測試儀IM3533基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）。在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，不間斷測試，速度是我司以往產品的10倍，內置的低阻抗高精度模式可有效測量低感應或鋁電解電容的等效串聯(lián)電阻。